X射線微焦點電子元件檢測系統

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微焦點實時成像檢測系統

丹東華日理學電氣股份有限公司(簡稱HRE)自主研發的微焦點X射線源,技術指標已經達到國際同類產品水平。微焦開放式射線源配合數字平板探測器組成的X射線微焦成像檢測系統,可以得到高分辨率的數字圖像。將圖像效果呈現出了高放大倍率及高分辨率,特別適合檢測小工件或微小缺陷。如電子元器件,半導體,電池,醫療器具,塑料產品等等。HRE公司根據市場應用開發出的針對行業檢測的系統,如PCB板檢測系統,電池檢測系統等,通過軟件操作實現缺陷檢測,并可對缺陷進行自動的判別,精確的測量等。隨著計算機技術的發展,微焦射線源被用于了計算機斷層掃描技術中,形成了微焦的高分辨率的工業CT系統。HRE公司采用了高穩定性的機械系統為基礎的設計,配合控制軟件自動化操作和圖像軟件的高效分析,為用戶體驗到檢測更加全面,操作更加簡便的檢測系統。

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